In situ roughness measurements for the solar cell industry using an atomic force microscope

  1. González-Jorge, H.
  2. Alvarez-Valado, V.
  3. Valencia, J.L.
  4. Torres, S.
Aldizkaria:
Sensors

ISSN: 1424-8220

Argitalpen urtea: 2010

Alea: 10

Zenbakia: 4

Orrialdeak: 4002-4009

Mota: Artikulua

DOI: 10.3390/S100404002 GOOGLE SCHOLAR lock_openSarbide irekia editor
Datuen iturria: Scopus