Nuevos sistemas RFID para optimizar los procesos en entornos industriales adversos
- Regtmeier, Jan
- Armesto Quiroga, José Ignacio
Aldizkaria:
Automática e instrumentación
ISSN: 0213-3113
Argitalpen urtea: 2013
Zenbakia: 455
Orrialdeak: 54-58
Mota: Artikulua