High resolution electron microscopy and x-ray photoelectron spectroscopy studies of heteroepitaxial SixGe(1-x) alloys produced through laser induced processing

  1. Frangis, N.
  2. Van Landuyt, J.
  3. Larciprete, R.
  4. Martelli, S.
  5. Borsella, E.
  6. Chiussi, S.
  7. Castro, J.
  8. León, B.
Zeitschrift:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Datum der Publikation: 1998

Ausgabe: 72

Nummer: 22

Seiten: 2877-2879

Art: Artikel

DOI: 10.1063/1.121487 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus