What are the limitations in the characterization of self-assembled metamaterials using advanced microscopy techniques?

  1. Kiely, C.J.
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  4. Clasen, P.
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  6. Rodríguez-González, B.
  7. Liz-Marzán, L.
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  9. Fink, J.
  10. Brust, M.
Zeitschrift:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Datum der Publikation: 2005

Ausgabe: 11

Nummer: SUPPL. 2

Seiten: 204-205

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1017/S1431927605507153 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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