Dynamic response degradation of aged digital ICs

  1. Marcos-Acevedo, J.
  2. Soto-Campos, E.
  3. Fernandez-Gomez, S.
Konferenzberichte:
Proceedings - Annual Reliability and Maintainability Symposium

ISSN: 0149-144X

ISBN: 978-1-4577-1849-6,  978-1-4577-1851-9,  978-1-4577-1850-2

Datum der Publikation: 2012

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/RAMS.2012.6175443 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

Datenquelle: Scopus