Goodness-of-fit tests for a semiparametric model under random double truncation
- Moreira, C.
- de Uña-Álvarez, J.
- Van Keilegom, I.
ISSN: 1613-9658, 0943-4062
Argitalpen urtea: 2014
Alea: 29
Zenbakia: 5
Orrialdeak: 1365-1379
Mota: Artikulua
Aldizkaria:
Computational Statistics