Analysis of the power outage effects in RFID
- Vales-Alonso, J.
- Muñoz-Gea, J.P.
- Alcaraz, J.J.
- González-Castaño, F.J.
ISSN: 1089-7798
Ano de publicación: 2017
Volume: 21
Número: 2
Páxinas: 306-309
Tipo: Artigo
Revista:
IEEE Communications Letters