Métodos de contorno en clasificación estadística de patrones

  1. SANCHO GÓMEZ JOSÉ LUIS
Zuzendaria:
  1. Aníbal Ramón Figueiras Vidal Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad Carlos III de Madrid

Fecha de defensa: 1999(e)ko uztaila-(a)k 23

Epaimahaia:
  1. Alberto Prieto Espinosa Presidentea
  2. Pedro Isasi Viñuela Idazkaria
  3. José Luis Alba Castro Kidea
  4. Fernando Díaz de María Kidea
  5. Francisco J. González Serrano Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 74118 DIALNET

Laburpena

Se trata de aportar soluciones a la clasificación estadística de patrones. Se presenta y describe un nuevo conjunto de herramientas, que se han denominado "Métodos de Contorno BM", cuyo denominador común es la obtención de información útil para la resolución de problemas de clasificación mediante la adecuada definición y manipulación de contornos que encierran muestras y definidos, idealmente, de forma que se ajusten lo más posible a las distribuciones de distintas clases. Se estudian la aplicación de EBM (Métodos de limitación elipsoidal) para determinar una medida de separabilidad entre clases y se realiza un aprendizaje incremental de las redes MLP que resuelve el problema global mediante la resolución secuencial de subproblemas. Finalmente se desarrolla y analiza el comportamiento de un método de diseño de RBF-NN basado en la selección de centroides que resultan "críticos" para la clasificación.