Estudio del test de tarjetas de circuito impreso con circuitos digitales vlsi y memorias ram
- CACERES GOMEZ, SANTIAGO
- José Miguel Ruiz González Director
Universidade de defensa: Universidad de Valladolid
Ano de defensa: 1998
- Santiago Lorenzo Matilla Presidente/a
- Francisco José de Andrés Rodríguez-Trelles Secretario/a
- Luis Javier de Miguel González Vogal
- Juan J. Rodríguez Andina Vogal
- Luis Serrano Arriezu Vogal
Tipo: Tese
Resumo
Estudio de los principales conceptos y herramientas de test de circuitos: modelo de fallos, algoritmos generadores de lectores de test, simulación de fallos, técnicas dft y técnicas bist (pseudoexhaustivas y pseudoaleatorias). Estudio del standar ieee 1149.1 para el test de tarjetas de circuito impreso. Propuesta de un nuevo método de generación de vectores de test para circuitos VLSI. Estudio del test de memorias ram. Aplicación de las distintas técnicas vistas a un módulo ejemplo.