Comparación interferométrica de longitudes de onda de láseresaplicación al aprendizaje de unproyecto de innovación en formación profesional

  1. Javier Diz
  2. Antón Infante
  3. Benito V. Dorrío 1
  4. Jesús Blanco
  5. Ismael Outumuro
  6. José L. Valencia
  1. 1 Universidade de Vigo
    info

    Universidade de Vigo

    Vigo, España

    ROR https://ror.org/05rdf8595

Libro:
Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica: TAEE 2016: Libro de Actas del XII Congreso de Tecnología, Aprendizaje y Enseñanza de la Electrónica
  1. Juan D. Aguilar Peña (dir.)
  2. Federico Barrero García (coord.)
  3. Jorge Juan Chico (coord.)
  4. Julián Viejo Cortés (coord.)
  5. Carlos Jesús Jiménez Fernández (coord.)
  6. Sergio Toral Marín (coord.)
  7. Alejandro Millán Calderón (coord.)

Editorial: Universidad de Sevilla

ISBN: 978-84-608-9298-4

Ano de publicación: 2016

Páxinas: 443-444

Congreso: Technologies Applied to Electronics Teaching (TAEE) (12. 2016. Sevilla)

Tipo: Achega congreso

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Resumo

En este artículo se describe un proyecto de innovación tecnológica en formación profesional concedidopor la Consellería de Educación de la Xunta de Galicia para el desarrollo de un medidor electrónico de longitudde onda de diodos láser mediante comparación interferométrica. El sistema de control se ha diseñadoactualizando y mejorando equipos de prácticas de microprogramación ya existentes, combinados con nuevosmódulos hardware de alta velocidad que aportan la resolución necesaria para la comparación de fase de lasfranjas de interferencia. También se han desarrollado módulos analógicos con fotodiodos y amplificadoresoperacionales que tendrán aplicación práctica en diferentes módulos profesionales.

Fonte de datos: Dialnet