Secondary electron induced current in scanning transmission electron microscopy: an alternative way to visualize the morphology of nanoparticles
- Vlasov, E.
- Skorikov, A.
- Sánchez-Iglesias, A.
- Liz-Marzán, L.M.
- Verbeeck, J.
- Bals, S.
ISSN: 2639-4979
Ano de publicación: 2023
Volume: 5
Número: 7
Páxinas: 1916-1921
Tipo: Artigo