Infering Bayesian models using Rough Set

  1. F. Díaz 1
  2. F. Fdez-Riverola 1
  3. J.M. Corchado 2
  1. 1 Artificial Intelligence Research Group, department of Computer Science, Escuela Superior de Ingeniería en Informática, Universidad de Vigo, Ourense
  2. 2 Departamento de Informática y Automática, Universidad de Salamanca, Facultad de Ciencias, Salamanca, Spain
Buch:
Artificial neural networks in pattern recognition
  1. Juan M. Corchado (coord.)
  2. Luis Alonso (coord.)
  3. Colin Fyfe (coord.)

Verlag: Imprenta Catedral

ISBN: 8495721228

Datum der Publikation: 2001

Seiten: 27-32

Art: Buch-Kapitel

DIALNET GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Dialnet