DISPOSITIVO PARA LA MEDIDA DE CORRIENTE CRITICA EN ANILLOS SUPERCONDUCTORES UTILIZANDO UNA FUENTE DE CONTINUA COMO CONTROL.

    Inventores/as:
  1. HIGINIO GONZALEZ JORGE
  2. DOMARCO ALVAREZ, GERARDO
  3. PELETEIRO SALGADO, JOSE
  4. DIEGO GONZALEZ SALGADO
  5. JACOBO ANTONIO TRONCOSO CASARES
  6. QUELLE VIDAL, IRIA
  7. LIARES GONZALEZ,BEATRIZ
  8. CARBALLO GONZALEZ,ENRIQUE
  9. ROMANI MARTINEZ,LUIS FERNANDO
  1. Universidade de Vigo
    info

    Universidade de Vigo

    Vigo, España

ES
Publicación principal:

ES2293759A1 (16-03-2008)

Otras Publicaciones:

ES2293759B1 (23-07-2009)

Solicitudes:

P200401790 (21-07-2004)

Imagen de la patente

Resumo

Dispositivo para la medida de corriente crítica en anillos superconductores utilizando una fuente de continua como control.

Consiste en ensamblar en un núcleo ferromagnético (6) una bobina primaria (4), una secundaria (8) y el anillo superconductor (7). La bobina primaria se conecta en serie a una bobina auxiliar (3), a un amperímetro (5) y a una fuente AC (1); la secundaria se conecta a un voltímetro (9). En el voltímetro de la bobina auxiliar aparecerá una señal cuando el valor de pico de la corriente que circula por el primario multiplicado por el número de vueltas de éste supere el valor de la corriente crítica del superconductor. En esta invención la corriente que circula por el circuito primario se regula variando la impedancia de la bobina auxiliar (3), mediante una fuente DC (10) conectada en paralelo a ésta y manteniendo constante el voltaje de la fuente AC (1).