PATRÓN DIMENSIONAL PARA SISTEMAS LÁSER ESCÁNER Y FOTOGRAMÉTRICOS.

    Inventores/as:
  1. HIGINIO GONZALEZ JORGE
  2. BELEN RIVEIRO RODRIGUEZ
  3. JULIA ARMESTO GONZALEZ
  4. PEDRO ARIAS SANCHEZ
  1. Universidade de Vigo
    info

    Universidade de Vigo

    Vigo, España

ES
Publicación principal:

ES2369802A1 (07-12-2011)

Otras Publicaciones:

ES2369802B1 (26-06-2012)

Solicitudes:

P201000591 (07-05-2010)

Imagen de la patente

Resumo

Patrón dimensional para sistemas laser y fotogramétricos.

Consiste en un objeto que permite verificar la precisión, exactitud y deriva de sistemas de medición basados en laser escáner y fotogramétricos por medio del cálculo de las distancias conocidas entre centros de las esferas (2) ensambladas sobre un bloque (1). Sobre dicho bloque están también mecanizados cubos (4) y cajeras (5) de diferentes tamaños para obtener la resolución vertical y horizontal en la medición de salientes y hendiduras. Además, dispone de cajeras en la parte inferior para aligerar el peso de la estructura y anillas toroidales (3) que favorecen el anclaje de las esferas al bloque.

INVENES: P201000591 ESPACENET
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