PATRÓN DIMENSIONAL PARA SISTEMAS LÁSER ESCÁNER Y FOTOGRAMÉTRICOS.
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Inventores/as:
- HIGINIO GONZALEZ JORGE
- BELEN RIVEIRO RODRIGUEZ
- JULIA ARMESTO GONZALEZ
- PEDRO ARIAS SANCHEZ
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Universidade de Vigo
info
Universidade de Vigo
Vigo, España
ES2369802A1 (07-12-2011)
ES2369802B1 (26-06-2012)
P201000591 (07-05-2010)
![Imagen de la patente](https://consultas2.oepm.es/imas//Resumen/000/00P/201/000/P201000591.jpg)
Resumo
Patrón dimensional para sistemas laser y fotogramétricos.
Consiste en un objeto que permite verificar la precisión, exactitud y deriva de sistemas de medición basados en laser escáner y fotogramétricos por medio del cálculo de las distancias conocidas entre centros de las esferas (2) ensambladas sobre un bloque (1). Sobre dicho bloque están también mecanizados cubos (4) y cajeras (5) de diferentes tamaños para obtener la resolución vertical y horizontal en la medición de salientes y hendiduras. Además, dispone de cajeras en la parte inferior para aligerar el peso de la estructura y anillas toroidales (3) que favorecen el anclaje de las esferas al bloque.