Identifikatu
Taldeak
Ikertzaileak
Emaitzak
CINTECX
Ikerketa zentroa
Český Metrologický Institut
Brno, República Checa
Hemen zaude
Lankidetzak
Český Metrologický Institut
Český Metrologický Institut-ko ikertzaileekin lankidetzan egindako argitalpenak (1)
2011
'Sub-atomic' resolution of non-contact atomic force microscope images induced by aheterogeneous tip structure: A density functional theory study
Nanotechnology, Vol. 22, Núm. 29
Kontaktua
Lege-oharra
translate
eu
arrow_drop_down
translate
eu
arrow_drop_down
es
ca
gl
en
fr
de