Dynamic fault test and diagnosis in digital systems using multiple clock schemes and multi-VDD test
- Rodriguez-Irago, M.
- Andina, J.J.R.
- Vargas, F.
- Santos, M.B.
- Teixeira, I.C.
- Teixeira, J.P.
Actas:
Proceedings - 11th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2005
ISBN: 9780769524061
Año de publicación: 2005
Volumen: 2005
Páginas: 281-286
Tipo: Aportación congreso