Quality control of wood-pulp chips using a 3D laser scanner and functional pattern recognition

  1. López, M.
  2. Vilán, J.A.
  3. Matías, J.M.
  4. Taboada, J.
Actes de conférence:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics

ISBN: 9781424407552

Année de publication: 2007

Pages: 1773-1778

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/ISIE.2007.4374874 GOOGLE SCHOLAR
La source de données: Scopus