Model-based steganalysis using invariant features

  1. Quach, T.-T.
  2. Pérez-González, F.
  3. Heileman, G.L.
Konferenzberichte:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819475046

Datum der Publikation: 2009

Ausgabe: 7254

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1117/12.810507 GOOGLE SCHOLAR