Investigating the use of BICS to detect resistive- open defects in SRAMs
- Chipana, R.
- Bolzani, L.
- Vargas, F.
- Semião, J.
- Rodríguez-Andina, J.
- Teixeira, I.
- Teixeira, P.
Actes:
Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010
ISBN: 9781424477227
Any de publicació: 2010
Pàgines: 200-201
Tipus: Aportació congrés