Identifikatu
Taldeak
Ikertzaileak
Emaitzak
Verification artifact for photogrammetric measurement systems
González-Jorge, H.
Riveiro, B.
Armesto, J.
Arias, P.
Aldizkaria
:
Optical Engineering
ISSN
:
0091-3286
,
1560-2303
Argitalpen urtea
:
2011
Alea
:
50
Zenbakia
:
7
Mota
:
Artikulua
Esportatu
Esportatu
×
MLA
modern-language-association
APA
apa
Chicago
chicago-fullnote-bibliography
Harvard
harvard-cite-them-right
Vancouver
vancouver-author-date
RIS
BibTex
Esportatu
×
Dokumentua ezin da beste atari batetik esportatu.
DOI:
10.1117/1.3598868
GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus
Kontaktua
Lege-oharra
translate
eu
arrow_drop_down
translate
eu
arrow_drop_down
es
ca
gl
en
fr
de