Goodness-of-fit tests for a semiparametric model under random double truncation
- Moreira, C.
- de Uña-Álvarez, J.
- Van Keilegom, I.
ISSN: 1613-9658, 0943-4062
Ano de publicación: 2014
Volume: 29
Número: 5
Páxinas: 1365-1379
Tipo: Artigo
Revista:
Computational Statistics