Identifica't
Grups
Investigadors/es
Resultats
Aplicacións Industriais dos Láseres
FA5
Český Metrologický Institut
Brno, República Checa
Estàs en
col·laboracions
Český Metrologický Institut
Publicacions en col·laboració amb investigadors/es de Český Metrologický Institut (1)
2011
'Sub-atomic' resolution of non-contact atomic force microscope images induced by aheterogeneous tip structure: A density functional theory study
Nanotechnology, Vol. 22, Núm. 29
Contacta
Avís legal
translate
ca
arrow_drop_down
translate
ca
arrow_drop_down
es
eu
gl
en
fr
de