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Aplicacións Industriais dos Láseres
FA5
Český Metrologický Institut
Brno, República Checa
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Český Metrologický Institut
Publications en collaboration avec des chercheurs de Český Metrologický Institut (1)
2011
'Sub-atomic' resolution of non-contact atomic force microscope images induced by aheterogeneous tip structure: A density functional theory study
Nanotechnology, Vol. 22, Núm. 29
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