Publicacións nas que colabora con JAVIER TABOADA CASTRO (11)

2013

  1. Classifying slate tile quality using automated learning techniques

    Mathematical and Computer Modelling, Vol. 57, Núm. 7-8, pp. 1716-1721

2012

  1. Slate characterization using 3D laser scanning

    AIP Conference Proceedings

2010

  1. Application of a hybrid 3D-2D laser scanning system to the characterization of slate slabs

    Sensors, Vol. 10, Núm. 6, pp. 5949-5961

  2. Functional classification of ornamental stone using machine learning techniques

    Journal of Computational and Applied Mathematics, Vol. 234, Núm. 4, pp. 1338-1345

  3. Shape functional optimization with restrictions boosted with machine learning techniques

    Journal of Computational and Applied Mathematics, Vol. 234, Núm. 8, pp. 2609-2615

  4. The Rock Processing Sector: Part I: Cutting Technology Tools, Anew Diamond Segment Band Saw Part II: Study Of Cutting Forces

    DYNA: revista de la Facultad de Minas. Universidad Nacional de Colombia. Sede Medellín, Vol. 77, Núm. 161, pp. 77-87

2009

  1. El corte de roca ornamental en el sector transformador, una nueva herramienta basada en el corte con sierra de cinta con segmentos de diamante

    Minería sostenible: conferencia internacional, 09 (Cámara Oficial Mineira de Galicia), pp. 1049-1060

  2. Las fuerzas de corte en el procesado de granito, estado del arte y comparativa con la propuesta de corte con sierra de cinta

    Minería sostenible: conferencia internacional, 09 (Cámara Oficial Mineira de Galicia), pp. 1061-1072

  3. Modelo optimizado para la medición tridimensional de placas de pizarra mediante triangulación láser

    Minería sostenible: conferencia internacional, 09 (Cámara Oficial Mineira de Galicia), pp. 947-956

2007

  1. Functional pattern recognition of 3D laser scanned images of wood-pulp chips

    Lecture Notes in Computer Science (including subseries Lecture Notes in Artificial Intelligence and Lecture Notes in Bioinformatics)

  2. Quality control of wood-pulp chips using a 3D laser scanner and functional pattern recognition

    IEEE International Symposium on Industrial Electronics