Quality control of wood-pulp chips using a 3D laser scanner and functional pattern recognition

  1. López, M.
  2. Vilán, J.A.
  3. Matías, J.M.
  4. Taboada, J.
Actas:
IEEE International Symposium on Industrial Electronics

ISBN: 9781424407552

Ano de publicación: 2007

Páxinas: 1773-1778

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/ISIE.2007.4374874 GOOGLE SCHOLAR
Fonte de datos: Scopus