Accurate HEMT model extraction and validation in class A and B bias points using a full two-port large signal on-wafer measurement system

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Actas:
Conference Proceedings of the International Symposium on Signals, Systems and Electronics

ISBN: 0-7803-4900-8

Año de publicación: 1998

Páginas: 427-431

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/ISSSE.1998.738110 GOOGLE SCHOLAR

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