High-reflectivity surface evaluation in Fizeau phase-stepping interferometry with a Ronchi grid as phase modulator
- Dorrio, B.V.
- Bugarin, J.
- Alen, J.M.
- Fernandez, A.
- Doval, A.F.
- Lopez Vazquez, J.C.
- Blanco-Garcia, J.
- Fernandez, J.L.
- Perez-Amor, M.
ISSN: 0277-786X
Any de publicació: 1996
Volum: 2782
Pàgines: 258-266
Tipus: Aportació congrés