Double-pulsed-carrier speckle-shearing pattern interferometry for transient deformation analysis

  1. Fernández, A.
  2. Doval, A.F.
  3. Dávila, A.
  4. Blanco-García, J.
  5. Pérez-López, C.
  6. Fernández, J.L.
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 1998

Volum: 3478

Pàgines: 352-358

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.312955 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus