Double-pulsed-carrier speckle-shearing pattern interferometry for transient deformation analysis
- Fernández, A.
- Doval, A.F.
- Dávila, A.
- Blanco-García, J.
- Pérez-López, C.
- Fernández, J.L.
ISSN: 0277-786X
Datum der Publikation: 1998
Ausgabe: 3478
Seiten: 352-358
Art: Konferenz-Beitrag