Algorithm for surface contouring using two-source phase-stepping digital shearography

  1. Fernández, A.
  2. Dávila, A.
  3. Pérez-López, C.
  4. Mendiola, G.
  5. Blanco-García, J.
Revista:
Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Ano de publicación: 2001

Volume: 4419

Páxinas: 170-173

Tipo: Artigo

DOI: 10.1117/12.437103 GOOGLE SCHOLAR