Analysis of excimer laser annealing of amorphous SiGe on La 2 O 3 //Si structures

  1. Fornarini, L.
  2. Conde, J.C.
  3. S.Chiussi, null
  4. Gonzalez, P.
  5. Leon, B.
  6. Martelli, S.
Aldizkaria:
Applied Surface Science

ISSN: 0169-4332

Argitalpen urtea: 2007

Alea: 253

Zenbakia: 19

Orrialdeak: 7957-7963

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/J.APSUSC.2007.02.063 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus