Robust packaged diode modelling with a table- based approach
- Testera, A.R.
- Mojón, O.
- Barciela, M.F.
- Sánchez, E.
Actes:
2008 European Microwave Integrated Circuit Conference, EuMIC 2008
ISBN: 9782874870071
Any de publicació: 2008
Pàgines: 131-134
Tipus: Aportació congrés