Robust packaged diode modelling with a table- based approach
- Testera, A.R.
- Mojón, O.
- Barciela, M.F.
- Sánchez, E.
Konferenzberichte:
2008 European Microwave Integrated Circuit Conference, EuMIC 2008
ISBN: 9782874870071
Datum der Publikation: 2008
Seiten: 131-134
Art: Konferenz-Beitrag