Robust packaged diode modelling with a table- based approach

  1. Testera, A.R.
  2. Mojón, O.
  3. Barciela, M.F.
  4. Sánchez, E.
Actes de conférence:
2008 European Microwave Integrated Circuit Conference, EuMIC 2008

ISBN: 9782874870071

Année de publication: 2008

Pages: 131-134

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/EMICC.2008.4772246 GOOGLE SCHOLAR
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