Investigating the use of BICS to detect resistive- open defects in SRAMs

  1. Chipana, R.
  2. Bolzani, L.
  3. Vargas, F.
  4. Semião, J.
  5. Rodríguez-Andina, J.
  6. Teixeira, I.
  7. Teixeira, P.
Actas:
Proceedings of the 2010 IEEE 16th International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2010

ISBN: 9781424477227

Ano de publicación: 2010

Páxinas: 200-201

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/IOLTS.2010.5560207 GOOGLE SCHOLAR
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