Spectroscopy and high-resolution microscopy of single nanocrystals by a focused ion beam registration method
- Novo, C.
- Funston, A.M.
- Pastoriza-Santos, I.
- Liz-Marzán, L.M.
- Mulvaney, P.
ISSN: 1433-7851
Any de publicació: 2007
Volum: 46
Número: 19
Pàgines: 3517-3520
Tipus: Article