Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy
- Pou, P.
- Ghasemi, S.A.
- Jelinek, P.
- Lenosky, T.
- Goedecker, S.
- Perez, R.
ISSN: 0957-4484, 1361-6528
Ano de publicación: 2009
Volume: 20
Número: 26
Tipo: Artigo
ISSN: 0957-4484, 1361-6528
Ano de publicación: 2009
Volume: 20
Número: 26
Tipo: Artigo