Finite elements analysis of heteroepitaxial SiGe layers grown by excimer laser
- Conde, J.C.
- González, P.
- Lusquiños, F.
- Chiussi, S.
- Serra, J.
- León, B.
ISSN: 0169-4332
Ano de publicación: 2005
Volume: 248
Número: 1-4
Páxinas: 461-465
Tipo: Achega congreso