Dynamic fault detection in digital systems using dynamic voltage scaling and multi-temperature schemes
- Rodríguez-Irago, M.
- Andina, J.J.R.
- Vargas, F.
- Semião, J.
- Teixeira, I.C.
- Teixeira, J.P.
Actes:
Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium
ISBN: 9780769526201
Any de publicació: 2006
Volum: 2006
Pàgines: 257-262
Tipus: Aportació congrés