Dynamic fault detection in digital systems using dynamic voltage scaling and multi-temperature schemes
- Rodríguez-Irago, M.
- Andina, J.J.R.
- Vargas, F.
- Semião, J.
- Teixeira, I.C.
- Teixeira, J.P.
Konferenzberichte:
Proceedings - IOLTS 2006: 12th IEEE International On-Line Testing Symposium
ISBN: 9780769526201
Datum der Publikation: 2006
Ausgabe: 2006
Seiten: 257-262
Art: Konferenz-Beitrag