A robust approach for comparison and validation of large signal measurement systems

  1. Williams, T.
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  3. Woodington, S.
  4. Lees, J.
  5. Barciela, M.F.
  6. Benedikt, J.
  7. Tasker, P.J.
Konferenzberichte:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 9781424417810

Datum der Publikation: 2008

Seiten: 257-260

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/MWSYM.2008.4633152 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus