A robust approach for comparison and validation of large signal measurement systems

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Actes de conférence:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 9781424417810

Année de publication: 2008

Pages: 257-260

Type: Communication dans un congrès

DOI: 10.1109/MWSYM.2008.4633152 GOOGLE SCHOLAR
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