A robust approach for comparison and validation of large signal measurement systems

  1. Williams, T.
  2. Mojón, O.
  3. Woodington, S.
  4. Lees, J.
  5. Barciela, M.F.
  6. Benedikt, J.
  7. Tasker, P.J.
Actas:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

ISSN: 0149-645X

ISBN: 9781424417810

Año de publicación: 2008

Páginas: 257-260

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/MWSYM.2008.4633152 GOOGLE SCHOLAR