Exploiting parametric power supply and/or temperature variations to improve fault tolerance in digital circuits

  1. Semião, J.
  2. Freijedo, J.
  3. Andina, J.
  4. Vargas, F.
  5. Santos, M.
  6. Teixeira, I.
  7. Teixeira, P.
Actes:
Proceedings - 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2008

ISBN: 9780769532646

Any de publicació: 2008

Pàgines: 227-232

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/IOLTS.2008.51 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus