Spectroscopy and high-resolution microscopy of single nanocrystals by a focused ion beam registration method

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  5. Mulvaney, P.
Revista:
Angewandte Chemie - International Edition

ISSN: 1433-7851

Ano de publicación: 2007

Volume: 46

Número: 19

Páxinas: 3517-3520

Tipo: Artigo

DOI: 10.1002/ANIE.200700033 GOOGLE SCHOLAR
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