Exploiting parametric power supply and/or temperature variations to improve fault tolerance in digital circuits

  1. Semião, J.
  2. Freijedo, J.
  3. Andina, J.
  4. Vargas, F.
  5. Santos, M.
  6. Teixeira, I.
  7. Teixeira, P.
Actas:
Proceedings - 14th IEEE International On-Line Testing Symposium, IOLTS 2008

ISBN: 9780769532646

Ano de publicación: 2008

Páxinas: 227-232

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/IOLTS.2008.51 GOOGLE SCHOLAR
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