Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

  1. Sugimoto, Y.
  2. Pou, P.
  3. Custance, O.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Perez, R.
  7. Morita, S.
Revista:
Science

ISSN: 0036-8075,  1095-9203

Any de publicació: 2008

Volum: 322

Número: 5900

Pàgines: 413-417

Tipus: Article

DOI: 10.1126/SCIENCE.1160601 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus