Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

  1. Sugimoto, Y.
  2. Pou, P.
  3. Custance, O.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Perez, R.
  7. Morita, S.
Zeitschrift:
Science

ISSN: 0036-8075,  1095-9203

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 322

Nummer: 5900

Seiten: 413-417

Art: Artikel

DOI: 10.1126/SCIENCE.1160601 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus