Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy

  1. Sugimoto, Y.
  2. Pou, P.
  3. Custance, O.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Perez, R.
  7. Morita, S.
Aldizkaria:
Science

ISSN: 0036-8075,  1095-9203

Argitalpen urtea: 2008

Alea: 322

Zenbakia: 5900

Orrialdeak: 413-417

Mota: Artikulua

DOI: 10.1126/SCIENCE.1160601 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus