Single atomic contact adhesion and dissipation in dynamic force microscopy

  1. Oyabu, N.
  2. Pou, P.
  3. Sugimoto, Y.
  4. Jelinek, P.
  5. Abe, M.
  6. Morita, S.
  7. Pérez, R.
  8. Custance, Ó.
Revista:
Physical Review Letters

ISSN: 1079-7114,  0031-9007

Any de publicació: 2006

Volum: 96

Número: 10

Tipus: Article

DOI: 10.1103/PHYSREVLETT.96.106101 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus